隨著納米技術(shù)和材料科學的發(fā)展，對顆粒尺寸、形態(tài)及其表面性質(zhì)的研究變得尤為重要。美國MAS公司推出的超聲電聲法納米粒度及ZETA電位分析儀，為科研人員提供了一種全新的測量手段。本文將對該分析儀的可測量參數(shù)及主要特點進行簡要介紹。

　　可測量參數(shù)

　　該分析儀能夠提供一系列關(guān)鍵參數(shù)的測量，包括但不限于：

　　粒度分布：評估顆粒大小的變化范圍，有助于理解材料的均勻性。

　　固含量：測定溶液中固體顆粒的百分比，對控制產(chǎn)品質(zhì)量至關(guān)重要。

　　Zeta電位：反映顆粒表面帶電情況，影響顆粒間的聚集與分散行為。

　　等電點(IEP)：指顆粒表面電荷為零時的pH值，影響顆粒穩(wěn)定性。

　　電導率：測量溶液傳導電流的能力，與離子濃度相關(guān)。

　　pH值：表示溶液酸堿度，影響顆粒表面電荷狀態(tài)。

　　溫度：影響顆粒的行為和反應(yīng)速率。

　　聲衰減：評估介質(zhì)吸收聲波的能力，與顆粒濃度和粒徑有關(guān)。

　　主要特點

　　多組分分析能力：能夠同時分析多種分散物質(zhì)的混合體，為復雜體系的研究提供了便利。

　　等電點測定：無需依賴雙層理論模型，直接測定等電點，提供更準確的結(jié)果。

　　適應(yīng)性強：適用于高導電性體系，拓寬了儀器的應(yīng)用范圍。

　　抗干擾性強：能夠排除雜質(zhì)的影響，減少樣品污染對結(jié)果的影響。

　　無水體系測量：支持對無水環(huán)境中的樣品進行測量，滿足特定研究需求。

　　多頻電聲技術(shù)：采用多頻電聲方法測量Zeta電位，無需預先知道顆粒尺寸。

　　高濃度樣品直接測量：允許對高達60%體積比的高濃度樣品進行直接測量，避免了因稀釋帶來的誤差。

　　自動滴定功能：具備自動電位滴定功能，簡化了實驗操作流程。

　　美國MAS超聲電聲法納米粒度及ZETA電位分析儀以其技術(shù)優(yōu)勢，成為了研究納米顆粒及其分散體系的重要工具。它不僅可以應(yīng)用于基礎(chǔ)科學研究，還能服務(wù)于工業(yè)生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制，為新材料的研發(fā)與應(yīng)用開辟了新的途徑。